Joint Test Action Group
Joint Test Action Group je standard definovaný normou IEEE 1149.1, tzv. Standard Test Access Port (TAP). Jedná se o architekturu Boundary-Scan pro testování plošných spojů, programování FLASH pamětí apod.
Signály rozhraní
- TDI (Test Data In)
- TDO (Test Data Out)
- TCK (Test ClocK)
- TMS (Test Mode Select)
- TRST (Test ReSeT) – volitelný
Data jsou přenášena sériově.
JTAG Konektory
Přestože je JTAG standardizovaný, konektory na připojení JTAG adaptéru nikoliv. Většina výrobců používá vlastní pinout, přičemž je většinou použit "pinheader" s roztečí 2,54 mm (0,1 palce). Obecně se napříč mezi výrobci rozšířilo jen pár zapojení JTAGu (zejména MIPS EJTAG, ARM JTAG) [1].
Použití
JTAG je možné použít kromě primárního účelu, kterým je testování plošných spojů a interní funkce obvodů, také k programování flash pamětí, procesorů, FPGA, CPLD a dalších. K tomuto bylo vytvořeno několik standardů, např. IEEE 1532, JEDEC STAPL, nebo nestandardizovaný, ale hodně používaný Serial Vector Format [2].
Reference
Externí odkazy
Obrázky, zvuky či videa k tématu Joint Test Action Group na Wikimedia Commons - JTAG FAQ
- JTAG Standards
.jpg){kind=link}