Joint Test Action Group
Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados.[1] Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes.
JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração.
A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.[2]
Ligações externas
- (em inglês) IEEE Std. 1149.1 - Standard Test Access Port
- (em inglês) JTAG - Compact JTAG Working Group
- (em inglês) Padrão JTAG aberto
- (em inglês) Padrão da Texas
Referências
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