Цахиурын давхар исэл
Цахиурын исэл (SiO2) нь хамгийн тогтвортой элемент боловч HF-тай урвалд ордог.
 Цэвэр цахиурын давхар исэл | |
| Нэр | |
|---|---|
| IUPAC нэр Silicon dioxide | |
| Өөр нэр Quartz Silica | |
| Ерөнхий | |
CAS бүртгэлийн дугаар | 7631-86-9  |
| ChEBI | CHEBI:30563 |
| ChemSpider | 22683 |
| ЕХ дугаар | 231-545-4 |
Gmelin | 200274 |
| Jmol-3D зураг | Зураг |
| KEGG | C16459  |
| MeSH | Silicon+dioxide |
| PubChem | 24261 |
| RTECS дугаар | VV7565000 |
| UNII | ETJ7Z6XBU4 |
InChI
| |
SMILES
| |
| Шинж чанар | |
Химийн томъёо | SiO2 |
| Моль масс | 60.08 g/mol |
| Гадаад байдал | Transparent crystals |
| Нягт | 2.648 (α-quartz), 2.196 (amorphous) g·cm−3[1] |
| Хайлах температур | 1,713 °C (3,115 °F; 1,986 K) (amorphous)[1](p4.88) to |
| Буцлах температур | 2,950 °C (5,340 °F; 3,220 K)[1] |
| Дулаан дамжуулалт | 12 (|| c-axis), 6.8 (⊥ c-axis), 1.4 (am.) W/(m⋅K)[1](p12.213) |
Хугалах илтгэгч (nD) | 1.544 (o), 1.553 (e)[1](p4.143) |
| Аюултай нөхцөл | |
| NFPA 704 |  0 0 0 |
| АНУ-ын зөвшөөрөгдсөн дээд хэмжээ (NIOSH): | |
PEL (Зөвшөөрөгдөх) | TWA 20 mppcf (80 mg/m3/%SiO2) (аморф)[2] |
REL (Зөвлөсөн) | TWA 6 mg/m3 (аморф)[2] Ca TWA 0.05 mg/m3[3] |
IDLH (Аюултай хэмжээ | 3000 mg/m3 (аморф)[2] Ca [25 mg/m3 (кристобалит, тридимит); 50 mg/m3 (кварц)][3] |
| Хамааралтай нэгдлүүд | |
Хамааралтай: давхар исэлүүд | Нүүрстөрөгчийн давхар исэл Германийн давхар исэл |
Бусад | Цахиурын исэл Цахиурын сульфид |
| Термохими | |
Ердийн моляр энтроп (S | 42 J·mol−1·K−1[4] |
Үүсэлтийн ердийн энтальп (ΔfH | −911 kJ·mol−1[4] |
Өөрөөр тодотгож заагаагүй бол бодисуудын хэвийн төлөв (25 °C [77 °F], 100 kPa) дахь үзүүлэлтүүд. | |
 шалгах (what is:  / ?) | |
| Мэдээлэлийн хайрцагны эх сурвалж | |
Эх сурвалж
Цахим холбоос
- Tridymite, International Chemical Safety Card 0807
- Quartz, International Chemical Safety Card 0808
- Cristobalite, International Chemical Safety Card 0809
- amorphous, NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards
- crystalline, as respirable dust, NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards
- Formation of silicon oxide layers in the semiconductor industry. LPCVD and PECVD method in comparison. Stress prevention.
- Quartz SiO2 piezoelectric properties
- Silica (SiO2) and Water
- Epidemiological evidence on the carcinogenicity of silica: factors in scientific judgement by C. Soutar and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/97/09
- Scientific opinion on the health effects of airborne silica by A Pilkington and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/95/08
- The toxic effects of silica by A Seaton and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/87/13
- Structure of precipitated silica
Агуулах дахь «[[commons:Category:Silicon dioxide|
Unexpected use of template {{1}} - see Template:1 for details.]]» зургийн цомог
Chisholm, Hugh, ed. (1911), "Silica", Encyclopædia Britannica (11th ed.), Cambridge University Press
Загвар:Цахиурын эрдсүүдЗагвар:ИслүүдЗагвар:Цахиурын нэгдлүүд
🔥 Top keywords: Нүүр хуудасТусгай:SearchБор гөрөөсЧингис хаанМонголын хаадын төр барьсан жилийн жагсаалтМөнх хаанМонголНэгдсэн Үндэстний БайгууллагаДэлхийн хоёрдугаар дайнМонгол бичигӨгэдэй хаанМонгол дахь Их Хэлмэгдүүлэлт1990 оны Монголын ардчилсан хувьсгалАгаарын бохирдолХалхын голын дайнЦахиагийн ЭлбэгдоржИх Монгол УлсЭнзимБүгд Найрамдах Монгол Ард УлсУлаанбаатарНарны аймагЮань УлсМандуул хаанАрдчилалХүний Эрхийн Түгээмэл ТунхаглалЛигдэн хаанАрдын хувьсгалОросМонгол Улсын Үндсэн ХуульХүннү улсМазаалайНисэх онгоцФотосинтезМонголын Нууц ТовчооМонгол улсын аймаг, нийслэлДашдоржийн Нацагдорж1945 оны чөлөөлөх дайнҮр хөндөлтӨмнөд Солонгос