Scanning tunneling mikroskop
Avsøkende tunnelelektronmikroskop[1] (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.
Referanser
Eksterne lenker
- (en) Scanning tunneling microscope – kategori av bilder, video eller lyd på Commons
- (en) Scanning tunneling microscope – galleri av bilder, video eller lyd på Commons
- «The Scanning Tunneling Microscope». Nobelprize.org.
🔥 Top keywords: Portal:ForsideSpesial:SøkBørsen (København)Amrit KaurBaneheia-sakenFinn.noThor HeyerdahlCarlo AncelottiYr.noViggo KristiansenFacebookNAVMesterligaen i fotball for mennTungtvannTrond BrænneLuka ModrićJan Helge AndersenNorgeSpesial:Siste endringerNorsk TippingVaskebjørnKristoffer KlaessonIranIsraelJude BellinghamRima IrakiErling Braut HaalandDen iberiske halvøyIngvild KjerkolDagbladetOle Martin ÅrstVGReal Madrid CFAndrij LuninDurek VerrettEurovision Song Contest 2024Danby ChoiEM i fotball 2024Jan Christian Vestre