Taramalı tünelleme mikroskobu

Taramalı tünelleme mikroskobu, yüzeyleri atomik düzeyde görüntülemek için kullanılan alettir. 1981'de, Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından icat edilmiş olup,^[1] kendileri 1986 yılında bu icatla Nobel Fizik Ödülü'nü kazanmışlardır.^[2]

Kaynakça

Konuyla ilgili yayınlar

Lapshin, R. V. (2004). "Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology". Nanotechnology (İngilizce). 15 (9). ss. 1135-1151. Bibcode:2004Nanot..15.1135L. doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. ISSN 0957-4484. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
Lapshin, R. V. (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy". Nalwa, H. S. (Ed.). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (İngilizce). 14. American Scientific Publishers. ss. 105-115. ISBN 978-1-58883-163-7. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
Fujita, D.; Sagisaka, K. (2008). "Topical review: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy". Science and Technology of Advanced Materials (İngilizce). 9 (1). s. 013003. Bibcode:2008STAdM...9a3003F. doi:10.1088/1468-6996/9/1/013003. PMC 5099790 $2. PMID 27877921.
Wiesendanger, Roland (1994). Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications (İngilizce). Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-42847-7.

[1]

[2]